در این کار پژوهشی از روش تازه ای برای آشکارسازی عناصری که به مقدار بسیار کم در ترکیبها وجود دارند، استفاده شده است. برای این منظور، از اثر تقویت پرتو X و نمونه های استاندارد شرکت BAS (شرکت تولید کننده پودرهای استاندارد) استفاده شد. در نمونه مورد آزمایش مقدار بسیار کمی روبیدیوم وجود دارد که با اضافه کردن مقداری کربنات استرانسیوم شدت پرتو X گسیلی آن افزایش می یابد. این پدیده می تواند در تشخیص وجود ناچیز عناصر بسیار مهم باشد.

مقدمه: پرتو X از جمله پرتوهای یونیزان الکترومغناطیسی می باشد که دارای طیفی وسیع است. این امواج کاربردهای مختلفی در پزشکی، صنایع، و تحقیقات دارند. به منظور جلوگیری از خطرات ناشی از این امواج می بایست بر نحوه بکارگیری آنها نظارت دقیق صورت گیرد و کلیه اپراتورها از خطرات احتمالی و آسیب های ناشی از بکارگیری غیراصولی این دستگاه ها آشنایی داشته باشند. یکی از مراکزی که این امواج کاربرد زیادی در آن دارند، فرودگاه ها و بخش های کنترلی است. بررسی میزان مواجهه لحظه ای اپراتورها و پرسنل شاغل در ورودی های (گیت های) بازرسی با پرتو X هدف اصلی این پژوهش می باشد.مواد و روش کار: دستگاه های X-Ray موجود در ورودی های (گیت های) بازرسی فرودگاه ها عمدتا شامل دو مدل RAPISCAN و HEIMANN می باشد. اندازه گیری در دو قسمت بازرسی آقایان و خانم ها و در وضعیت های مختلف از قبیل پرده پایین و بسته، پرده بالا در حین خروج وسایل، و در محل نشستن اپراتور در کنار دستگاه انجام شد. اندازه گیری پرتوهای X به وسیله دستگاه آشکارساز این پرتوها، مدل Smartlon، صورت گرفت. نتایج حاصل از اندازه گیری با استفاده از آزمون های آماری علامت و آزمون t مورد تجزیه و تحلیل آماری قرار گرفت و میزان پرتو x با حد مجاز استاندارد شغلی انجمن دولتی متخصصین بهداشت صنعتی امریکا (ACGIH) که 25 msvh-1 می باشد، مورد مقایسه قرار گرفت.نتایج: میانگین کل میزان پرتو x اندازه گیری شده برابر با 2.68±0.37 بود. در وضعیت پرده بالا این میانگین پرتو 4.25±1.75، در وضعیت پرده پایین، 2.5±1.2، و در کنار دستگاه این میانگین 1.3±0.07 بود. میزان پرتو اندازه گیری شده در قسمت آقایان، 4.07±1.24 و در قسمت خانم ها، 1.3±0.13 بوده است. همچنین میزان پرتو اندازه گیری شده در دستگاه RAPISCAN و 2.07±0.61 و در دستگاه HEIMANN، 3.3±1.34 بدست آمد.بحث: هر چند که میزان پرتو X در تمامی حالات فوق پایین تر از حد مجاز شغلی می باشد، ولی در هر حال تماس با این پرتو حتی در دوزهای پایین می تواند عوارضی را برای انسان به همراه داشته باشد، بنابراین به پرسنل شاغل دراین واحدها باید آگاهی بیشتری در مورد خطرات پرتو و نحوه کار کردن ایمن با آن داده شود.

تابش سینکروترون، از یک نور قطبی و موازی با درخشندگی خیلی زیاد و شدت بالا تشکیل شده است که شامل ­­­گسترۀ وسیعی از طول موج­ها، از فروسرخ تا پرتوهای X پرانرژی است. در این مقاله خلاصه ای از کاربرد ­­­ های تابش سینکروترون در طیف سنجی و تصویربرداری به کمک پرتو X، ارائه شده است. این کاربرد ها شامل پراش پرتو X مواد پودری (XRPD)، پراکندگی پرتو ایکس در زوایای بزرگ (WAXS)، پراکندگی پرتو ایکس در زوایای کوچک (SAXS)، فلورسانس پرتو X (XRF)، بازتاب­سنجی پرتو X (XRR)، جذب لبۀ نزدیک ساختار ظریف پرتو X (NEXAFS)، جذب لبۀ نزدیک ساختار پرتو X (XANES)، طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو X (XPS)، طیف سنجی نشری پرتو X (XES) و تصویر برداری به کمک پرتو X است. این تکنیک­ها، برای مشخصه­یابی انواع ساختارهای مواد مختلف در اندازه­های میکرو و نانو توانایی بالایی دارند. علاوه بر این، استفاده از این فناوری ها مزیت هائی مانند صحت بیشتر اندازه ­گیری­ها، بهبود نسبت "علامت به نوفه"، تفکیک فضایی بهتر و سرعت بیشتر جمع آوری داده­ها دارد.

انتشار پرتو X سخت در توکامک دماوند، هم زمان با تحول زمانی جریان پلاسما و ولتاژ حلقه، مورد بررسی قرار گرفته است. در این کار تجربی شات هایی را در نظر گرفته ایم که در آن ها جریان پلاسما از 17 تا 32kA تغییر می کرد. تحول زمانی جریان پلاسما تا مرحله ی گسیختگی، تحول زمانی ولتاژ حلقه و پرتو X منتشره تجزیه و تحلیل شده است. در جریان های کم تر از 20kA پرتو X سخت به هنگام مرحله گسیختگی مشاهده می شود و مدت دوام تخلیه کم تر از 10ms می باشد، ولی برای جریان های پلاسمای بیش تر از 20kA، پرتو X سخت از شروع تخلیه تا گسیختگی پلاسما که حدود 20ms طول می کشد مشاهده می شود. دو روند تولید الکترون گریزان در این توکامک ملاحظه می شود. روند اول مشابه با مشاهدات انجام یافته در سایر توکامک ها و به هنگام گسیختگی است. این روند با استفاده نظریه دریسر تولید الکترون گریزان، قابل درک است. روند دوم که تقریبا از شروع تا پایان تخلیه قابل مشاهده است با پدیده بهمن مرتبط می باشد.

طیف سنجی ریز ساختار جذب پرتوی (XAFS: X-Ray Absorption Fine Structure) به جزئیاتی اطلاق می شود که بیان کننده چگونگی جذب پرتوی-X در یک اتم مورد نظر در لایه های الکترونی نزدیک و دور به هسته در انرژی های مربوطه می باشد. به طور خاص، XAFS مدلی از جذب اشعه ایکس یک اتم به دلیل حالتهای شیمیایی و فیزیکی آن اتم است. طیفهای XAFS به طور کلی به عدد اکسایش، شیمی کئوردیناسیون، فواصل پیوندی، عدد کئوردیناسیون و نوع گروه های مجاور اتم چذب کننده بستگی دارند. به دلیل این وابستگی، XAFS روشی مفید و ساده را برای تعیین حالات شیمیایی و ساختاری در ترکیبات مشخص فراهم می کند. از XAFS می توان در انواع سیستم ها و محیطهای فیزیکی مختلف استفاده کرد. XAFS به طور معمول در طیف وسیعی از زمینه های علمی، از جمله زیست شناسی، علوم زیست محیطی، تحقیقات بروی کاتالیزورها و علوم مواد استفاده می شود. در این مطالعه ساختار چند ترکیب معدنی با طیف سنجی پرتوی اشعه ایکس بررسی می شود.

تغییر عدد اکسایش یک عنصر سبب تغییراتی در انرژی خطوط طیفی حاصل از گذارهای الکترونی بین لایه های درونی اتم می شود. این تغییرات انرژی موجب جابه جایی جزئی در مکان خطوط طیفی خواهد شد که فقط با طیف سنجهای حساس مجهز به کامپیوتر، قابل آشکارسازی، است. در این مقاله تغییرات یاد شده در دو عنصر گوگرد و منیزیوم مورد مطالعه قرار گرفته اند، اثر احتمالی آنها بر درجه بندی طیف سنجهای پاشنده  طول موج، و در نتیجه بر تحلیلهای کمی و کیفی به روش XRF نیز بررسی شده اند. از جمله معلوم شده است که در مواردی، این تغییرات می توانند در تعیین حالت اکسایش و پیوند شیمیایی عنصر در نمونه  مورد بررسی، مفید باشند.

یک سطح انتقالی دارای قابلیت شکل دهی پرتو با تلف کم و پهنای کاری وسیع معرفی شده است. ساخت ساده، قابلیت تنظیم فاز انتقالی از ویژگی های این آنتن می باشد. پهنای باند شکل بیم زینی این سلول ارایه شده بیشتر از 20 درصد و بازدهی دهانه آنتن در حدود 55 درصد در فرکانس مرکزی است. سلول واحد دایپل حلزونی در سطح انتقالی با پرتو زینی شکل استفاده شده است که از 3 لایه برد فرکانس بالا برای کاربردهای ماهواره ای در باند X طراحی شده و نتایج شبیه سازی و بهینه سازی آن ارایه شده است.

یکنواختی ترکیب شیمیایی (استوکیومتری) لایه های نازک اپتیکی نقش مهمی در کیفیت لایه ها دارد و افزایش آن موجب افزایش ضریب عبوردهی و آستانه ی تخریب لیزری و کاهش ضریب جذب می شودروش های متفاوتی هنگام عملیات لایه نشانی و پس از آن برای افزایش یکنواختی لایه ها به کار گرفته می شود. انجام عملیات حرارتی، یعنی گرم کردن لایه های نازک پس از عملیات لایه نشانی، یکی از متداول ترین این روش هاست. دی اکسید تیتانیوم (TiO2)، به عنوان ماده ای با ضریب شکست بالا، یکی از پرکاربرد ترین مواد در فناوری لایه نشانی اپتیکی است. به منظور یکنواختی ترکیب شیمیایی لایه ی نازک دی اکسید تیتانیوم، پس از عملیات لایه نشانی، تا دمای 400 درجه ی سانتیگراد به طور یکنواخت گرم می شود. در این تحقیق، وابستگی یکنواختی ترکیب شیمیایی لایه های نازک اپتیکی TiO2، به نرخ عملیات حرارتی (افزایش تدریجی دمای عملیات حرارتی نسبت به زمان) از طریق تحلیل طیف فوتوالکترونی پرتو X نمونه ها بررسی می شود. بدین منظور، پس از لایه نشانی TiO2 به ضخامت 400 نانومتر توسط تفنگ الکترونی روی شیشه ی اپتیکی BK7، هریک از نمونه ها تحت عملیات حرارتی با نرخ های متفاوت قرار گرفتند. داده های به دست آمده از طیف فوتوالکترونی پرتو X نشان می دهد که نمونه هایی که تحت عملیات حرارتی کند (2٫ 2 درجه ی سانتیگراد در هر دقیقه، تا دمای نهایی 400oC) قرارگرفته اند، ترکیب شیمیایی یکنواخت تری دارند و در آنها مقادیر بیشتری از ترکیب شیمیایی TiO2 موجود است. با استفاده از نتایج حاصل می توان آستانه ی تخریب لیزری آیینه های لیزری را در رژیم تابشی نانوثانیه و فمتوثانیه بهبود بخشید.

زمینه و هدف: یکی از روش های متداول در رادیوتراپی برای درمان های سطحی به ویژه در درمان ضایعات سطحی پوستی استفاده از دستگاه ارتوولتاژ پرتو X (تا kVp 300) می باشد. کیفیت پرتو X خروجی مهم ترین شاخص برای درمان در این نوع دستگاه ها می باشد که معمولا به صورت ضخامت لایه نیم جذب (HVL) وانرژی موثر فوتون نشان می دهند که در این تحقیق علاوه بر دو شاخص مذکور ضریب همگنی نیز به عنوان شاخصی دیگر مورد بررسی قرار گرفت.روش کار: در این مطالعه لایه نیم جذب (HVL) و ضریب همگنی دستگاه پرتو X سطحی در ولتاژ kV180 به روش تجربی تعیین گردید و با شبیه سازی به روش مونت کارلوبا کد EGSnrc مقایسه و نتایج گزارش گردید. برای این کار منحنی جذب با استفاده از اندازه گیری اکسپوژر عبوری از لایه های تضعیف کننده موجود در کلینیک رسم گردید و با درون یابی نقاط منحنی مناسب، لایه نیم جذب (HVL) و ضریب همگنی به دست آمد. همچنین دربسته EGSnrc، از کد BEAMnrc برای شبیه سازی سر دستگاه (Head) تا اپلیکاتور و از BEAMDP برای محاسبه ضریب همگنی به طور سیستماتیک و ترسیم طیف خروجی (با استفاده از داده های فضایی فازی) و از کد DOSXYZnrc برای ترسیم منحنی درصد دزعمقی در فانتوم آب استفاده گردید.یافته ها: نتایج نشان می دهد میانگین درصد اختلاف HVL و ضریب همگنی به دست آمده از 2 روش شبیه سازی و تجربی به %4.96 و %3.01 می باشد.نتیجه گیری: باتوجه به مطالعات قبلی که میزان اختلاف بین HVL اندازه گیری شده با روش تجربی و شبیه سازی %2 تا بالای %10 گزارش گردید، میانگین اختلاف %4.96 به دست آمد. که این میزان اختلاف، منطقی است. ضریب همگنی به دست آمده بیشتر از گزارش های قبلی محاسبه گردید که به علت تفاوت در کد استفاده شده قابل توجیه می باشد. لذا، با توجه به محدودیت های موجود در کلینیک، روش حاضر به دلیل سادگی چیدمان و مشابهت با شرایط کلینیکی به نظر می رسد که از کارآیی مناسبی برخوردار باشد.